MVG to showcase StarLab at EDI CON - MVG携明星产品StarLab首秀EDI CON,新锐产品和技术彰显30年创新之旅

les 30 ans
04/19/2016 to 04/21/2016

MVG will be participating as a silver sponsor in Electronic Design Innovation Conference (EDI CON) Beijing from April 19th to April 21th, 2016.

        法国Microwave Vision Group(以下简称MVG) 将携其明星产品StarLab系统登陆北京EDI CON (电子设计创新会议),并同期举办一系列活动以全面展示MVG技术创新的能力。这不仅是MVG的30年创新之旅的结晶,也是对法国MVG(SATIMO)集团成立30周年的献礼。 MVG的展位号是437。

On this occasion, MVG will showcase, for the first time in China, its star product StarLab. A series of technical activities will also be held so as to fully demonstrate MVG's technological innovation capability and its 30 years of innovation success. MVG's booth number is 437.

         MVG集团主席Philippe Garreau先生将亲临展会现场,他指出:“北京电子创新设计大会堪称业界最重要的展会之一。今年是MVG参加该年度盛会的第四个年头,我们不仅带来了首次在中国展出的产品——最新版StarLab系统,也会和业界友人分享我们MVG集团30年来所积累的创新成果,以及对新技术、行业新趋势的洞察,并共同探讨未来测试测量行业的发展新思路。”

StarLab - 世界同类首创系统尽展骄人风采

        为了让中国业界对这一明星产品有更深入的了解,MVG技术应用团队不仅在4月19日下午的“紧凑便携式天线测量系统改变传统天线测量”主题演讲中进行详细介绍,还特别举办免费“StarLab现场测试活动”。即通过互动形式,MVG技术专家为成功申请“现场天线测试”的企业进行免费天线测试测量。StarLab系统无需暗室便可进行天线测量,所申请测试的中小型天线的测量直径不得超45厘米,天线的宽带频率范围在650 MHz到18GHz之间。立即申请!

全球领先有源天线测试为业界带来技术福音

        作为CTIA/3GPP在有源天线测量标准制定中的主要贡献者,MVG也是全球独家提供基站有源天线测试技术(AAS testing)的天线测试测量系统厂商。在展会期间,由MVG法国资深技术专家Nicolas Gross先生以及来自意大利和中国的天线测试技术负责人组成的科研小组将在全球首次举办以“有源天线系统基站OTA测试”为主题的技术研讨会。与会者将有机会近距离了解近场测试系统的细节,透视针对有源天线系统OTA测试的多探头近场测试技巧。技术专家还将提供测试程序以及初步结果以供与会者参考。MVG将为申请的贵宾提供价值1,000RMB的免费VIP邀请。立即报名!

研讨会时间:2016年4月20日周三下午1 :30 – 4 :30
地点:北京国家会议中心 | 4层 | 会议室408室
地址:北京市朝阳区天辰东路7号

MVG诚挚地邀请您出席北京EDI CON 大会与MVG海内外技术专家相互交流,共同分享、探讨未来测试测量行业的发展新思路!