球形近场测量如何能从超采样中获益?

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How can spherical near-field measurements benefit from oversampling.jpg

超采样和多探头球面近场测量系统

在球面近场天线测量中,表征所需的样本数量是DUT(被测设备)的频率和物理尺寸的函数。这个样本数量必须符合奈奎斯特准则,该准则定义了围绕DUT的最小球体上的测量点(样本)之间的间距小于半个波长。这就设定了要测量的最小数量的点。只有这样,近场的采样才足以完全处理远场。

sampling principle

在由多探头测试系统进行的球形天线测量中,DUT在方位角上旋转,而设备周围的电磁场同时被多探头阵列扫描。

阵列的两个探头之间的角度间隔,例如MVG SG 64的角度间隔为5.29°,适合于低频的中小型天线测试。然而,对于大型天线和/或工作在更高频率的天线,如毫米波,需要更多的测量点,或样本,以尊重奈奎斯特准则。过度取样是关键。

过度取样通过对DUT定位器或探头阵列进行轻微的机械旋转来创造额外的虚拟探头。这两种过采样技术都是使用MVG的专利技术。这种旋转(SG 64最大为±2.6°)加上探针阵列的额外电子扫描,引入了更多的数据收集点,形成了完整的测量球面,从而获得了精确的分析能力。

 

使用DUT定位器的过采样需要将设备围绕其相位中心倾斜,对于相对较轻和平衡的设备,功能很好。对于大的、重的或长方形的天线和/或在毫米波频率下工作的设备,通过探头阵列的仰角旋转进行过采样,确保DUT在测试期间不经历重力偏移。这提供了最高的精度,以满足最佳的测量性能。

SG EVO是最新的MVG SG系统,集成了探头阵列的超采样功能。它最适合于重型DUT和高精确度的应用。

无限的超采样能力与SG Evo或SG 64的电子扫描探头阵列同步,可在几分钟内获得快速、准确的天线测量结果。

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