在许多情况下，测量甚高频低增益天线的辐射特性是一项具有挑战性的任务。
在屏蔽消声室中进行的测量通常优于室外测量，因为它们不受电磁污染的影响，受环境散射的影响也较小。然而，不同的误差源，如扫描面的截断和电波暗室反射率差引起的回声，都可能影响测量结果。在这种情况下，必须采用先进的后处理技术。本文报告了低增益甚高频空间天线的两个工程模型的结果。
在许多情况下，测量甚高频低增益天线的辐射特性是一项具有挑战性的任务。
在屏蔽消声室中进行的测量通常优于室外测量，因为它们不受电磁污染的影响，受环境散射的影响也较小。然而，不同的误差源，如扫描面的截断和电波暗室反射率差引起的回声，都可能影响测量结果。在这种情况下，必须采用先进的后处理技术。本文报告了低增益甚高频空间天线的两个工程模型的结果。
