在热条件下测试天线芯片组

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Testing Antenna CHip-Sets under Thermal Conditions_0.png

无线界关注的是设备在宽温度范围内的正常运行,因此,管理机构对高温和低温下的辐射测试提出了要求。当新无线电技术高度集成,天线嵌入芯片或芯片组,或封装在设备中时,这些要求就变得非常独特。挑战首先在于实现从 -30C 到 +90C 的结温,同时快速达到所需的温度并长时间保持极端温度。温度变化会导致天线材料热膨胀,并可能影响不同热条件下的天线性能。此外,高效的加热和冷却对环境负责,可降低实验室的电力和暖通空调成本。它还能提高设备在现场使用时的寿命和安全性。我们的目标是在这些极端温度条件下测量天线和数字无线电质量指标,同时尽量减少对波束的干扰。本文将介绍一种满足这些要求的解决方案,该方案已在工业领域部署。此外,还将介绍性能数据。已部署系统的用户继续要求扩大测量系统的温度范围和视场。本文最后将介绍正在进行的研发工作以及未来的工作。

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