我们提出了一种天线测量方法，与基于奈奎斯特理论的标准测量方法相比，它所需的现场采样数量大大减少，却能保持相当的精度。
数值模拟与被测天线几何形状的部分知识相结合，建立了一套数值定义的扩展函数。该方法使用天线的基本知识，并假设大表面的散射可以通过数值工具准确预测。馈电结构等天线区域被视为未知区域，并由保角表面上的等效电流和磁流表示。这样，相对于大多数天线的完整问题而言，复杂性和未知数数量都大大降低了。
该方法可用于标准采样范围。考虑到反射天线（MVG SR40，由双脊喇叭馈电）采用单馈电和多馈电配置，频率分别为 18 和 30 千兆赫，对该方法进行了球面和平面近场几何验证。采用向下采样快速方法获得的图案与标准测量结果进行了比较。实现了高达 8 的向下采样因子，与标准技术保持了非常高的相关性水平。